介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數(shù)（ε）是表征絕緣材料電學(xué)性能的核心參數(shù)。介電常數(shù)反映材料在電場中存儲電能的能力，而介質(zhì)損耗則衡量電能轉(zhuǎn)化為熱能的效率。這兩項(xiàng)指標(biāo)直接影響電子元器件（如電容器、絕緣子）的可靠性，尤其在高壓、高頻場景下，材料若存在過高損耗或介電常數(shù)不穩(wěn)定，可能導(dǎo)致設(shè)備發(fā)熱、信號失真甚至失效。
介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）作為絕緣材料的核心參數(shù)，直接決定了電容器、高頻電路等元器件的性能表現(xiàn)。隨著5G、新能源等行業(yè)的快速發(fā)展，對材料介電特性的測試需求日益增長。武漢凱迪正大推出的KDYD-JZ，正是針對這一需求設(shè)計(jì)的高精度設(shè)備，其覆蓋10kHz~100MHz的寬頻范圍和多檔位調(diào)節(jié)能力，為科研與工業(yè)應(yīng)用提供了強(qiáng)有力的工具支持。
測試原理上，介電常數(shù)通過測量材料在電場中的電容變化計(jì)算得出；介質(zhì)損耗則利用諧振法或電橋法檢測能量損耗角正切值。常見的測試材料包括陶瓷、塑料、云母等，其性能差異直接影響應(yīng)用場景選擇——例如高頻電路需低損耗材料，而高介電常數(shù)材料更適合電容器小型化設(shè)計(jì)。精準(zhǔn)測量這些參數(shù)對材料研發(fā)、質(zhì)量控制及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定具有重要意義。
武漢凱迪正大KDYD-JZ專為科研機(jī)構(gòu)、高校及企業(yè)設(shè)計(jì)，用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（tanδ）。其應(yīng)用覆蓋新材料研發(fā)、產(chǎn)品質(zhì)量檢測及教學(xué)實(shí)驗(yàn)，尤其適合無機(jī)金屬氧化物、陶瓷、塑料等材料的性能評估，為優(yōu)化材料配方和生產(chǎn)工藝提供數(shù)據(jù)支撐。
產(chǎn)品參數(shù) 1、Q值測量
a. Q值測量范圍：5~999
b. Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換擋
c.標(biāo)稱誤差
頻率范圍：10kHz~10MHz；
固有誤差：≤5%±滿度值的2%；工作誤差：≤7%±滿度值的2%；
頻率范圍：10MHz~52MHz
固有誤差：≤7%±滿度值的2%；工作誤差：107%±滿度值的2%。
2、電容測量
a.測量范圍：1~460pF(460pF以上的電容測量見使用規(guī)則)；
b.電容量調(diào)節(jié)范圍
主調(diào)電容器：40~500pF;
準(zhǔn)確度：150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%;
微調(diào)電容量：-3pF~0~+3pF;
準(zhǔn)確度：±0.2pF.
3、振蕩頻率
a.振蕩頻率范圍：10kHz~100MHz；
b.頻率分檔：
10~99 kHz 100~999 kHz
1 .0~9.99 MHz 10~52MHz。
c.頻率誤差：2×10-4±1個字
4、Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5~999。
5、儀器正常工作條件
a.環(huán)境溫度：0℃~+40℃；
b.相對濕度：<80%；
c.電源：220V±22V, 50Hz±2.5Hz。
6、試樣尺寸
圓片形：厚度2±0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時）
7、其他
a.消耗功率：約25W；
b.凈重：約7㎏;
c.尺寸外形：（l×b×h）mm：380×132×280。
產(chǎn)品特點(diǎn)Q值測量：覆蓋5~999范圍，支持自動換擋，10kHz~52MHz頻段內(nèi)固有誤差≤7%，滿足高頻材料測試需求。
電容測量：1~460pF寬量程，主調(diào)電容器精度達(dá)±1%（>150pF），微調(diào)電容分辨率0.2pF，確保微小電容變化可檢測。
振蕩頻率范圍10kHz~100MHz，分四檔細(xì)分，頻率誤差低至2×10??，適應(yīng)不同材料測試標(biāo)準(zhǔn)。
預(yù)置Q合格指示功能（5~999），可快速判定材料是否達(dá)標(biāo)，提升檢測效率。
工作環(huán)境寬容性強(qiáng)（0℃~40℃、濕度<80%），電源適應(yīng)性廣（220V±22V），適合實(shí)驗(yàn)室及產(chǎn)線環(huán)境。
試樣兼容性強(qiáng)，支持圓片形材料（直徑15~40mm，厚度2±0.5mm），覆蓋各類介電常數(shù)需求。
KDYD-JZ介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀憑借其高精度、寬量程和智能化功能，成為材料研發(fā)與質(zhì)量控制的常用選擇。無論是高校實(shí)驗(yàn)室的基礎(chǔ)研究，還是企業(yè)生產(chǎn)線的快速檢測，該設(shè)備均能提供穩(wěn)定可靠的測試數(shù)據(jù)。其Q值自動換擋、電容微調(diào)分辨率達(dá)0.2pF等技術(shù)優(yōu)勢，顯著提升了高頻材料評估的準(zhǔn)確性；而預(yù)置合格指示功能則大幅優(yōu)化了批量檢測效率。隨著電子器件向高頻化、集成化方向發(fā)展，此類高性能測試設(shè)備將在新材料開發(fā)、標(biāo)準(zhǔn)制定等領(lǐng)域發(fā)揮更重要的作用。凱迪正大通過持續(xù)優(yōu)化儀器性能，助力行業(yè)突破介電材料技術(shù)，為電子信息產(chǎn)業(yè)的創(chuàng)新提供堅(jiān)實(shí)支撐。
